M4 Tornado 微區(qū)X射線熒光光譜儀 產(chǎn)品簡介：

Bruker M4 Tornado 微區(qū)X射線熒光光譜儀可用于對大塊、不均勻、不規(guī)則，甚至小件的樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度、非破壞性的元素分析（Na11-U92），是研究樣品成分分析、成分分布規(guī)律的新利器，可以給學(xué)者從宏觀、微觀、微宏觀結(jié)合等多個角度提供新的研究思路。

·  采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，可將激發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域 （<20μm），以獲得良好的空間分辨率，進(jìn)行元素成像分析

·  渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得的樣品影像。

·  通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進(jìn)行靈活的激發(fā)。

·  使用XFlash®探測器高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進(jìn)一步提高測量速度。

·  基于無標(biāo)樣分析法準(zhǔn)確定量分析塊狀樣品，準(zhǔn)確分析多層膜樣品。

·  具有便捷進(jìn)樣功能的可抽真空的樣品室

·  輸出高精度的元素分布圖，分辨率可高達(dá)4000萬像素，7168*5582  pixels。

微區(qū) M4 Tornado 微區(qū)X射線熒光光譜儀具有廣泛的應(yīng)用環(huán)境，目前已經(jīng)在植物環(huán)境、科技考古、地球科學(xué)、材料科學(xué)、生物工程、刑偵等領(lǐng)域有著諸多的應(yīng)用案例。該設(shè)備在國內(nèi)外有專業(yè)的應(yīng)用開發(fā)人員，專注于新應(yīng)用領(lǐng)域的開發(fā)。